如何全面測(cè)試RAIN RFID讀寫器?
發(fā)布時(shí)間:2022-12-09UHF RFID也稱為RAIN RFID正在許多不同的行業(yè)中興起。雖然對(duì)于零售業(yè)來說,標(biāo)簽比讀寫器多千倍,但在某些行業(yè)中,這一現(xiàn)象恰恰相反。特別是在汽車工業(yè)和生產(chǎn)中,讀寫器數(shù)量龐大,因此對(duì)提高讀寫器的準(zhǔn)確性和讀取率有著強(qiáng)烈的需求。CISC RAIN RFID Xplorer就是一種涵蓋實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)測(cè)試設(shè)備的解決方案,滿足對(duì)讀寫器靈敏度、單獨(dú)相位和變化不敏感性的高要求。
眾所周知的是讀寫設(shè)備的核心組成部分是讀寫器芯片和天線,讀寫器芯片主要功能是按照協(xié)議進(jìn)行發(fā)射和接收。從物理特性的角度來說,發(fā)射功率和接收靈敏度的關(guān)系就變得非常的重要了,RFID Xplorer可通過非接的方式連接標(biāo)簽仿真模塊和讀寫器,通過調(diào)整發(fā)射功率來偵測(cè)接收靈敏度的變化,同時(shí)也可以設(shè)定時(shí)間長度對(duì)靈敏度的穩(wěn)定性做個(gè)長時(shí)間的監(jiān)控。所有這些物理特性的測(cè)試都遵循ISO/IEC 18046-2標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行,同時(shí)參考了最新的RAIN RFID RAIN Reader Sensitivity testing的測(cè)試方式讀取EPC的90%通過率的接收靈敏度點(diǎn)。
除了測(cè)試發(fā)射功率與靈敏度的關(guān)系,BLF和接收靈敏度容限關(guān)系的測(cè)試是反映在標(biāo)簽BLF變化對(duì)讀寫器靈敏度的影響。RFID Xplorer的標(biāo)簽仿真模塊可以完全模擬標(biāo)簽BLF的變化,改變BLF的步長來驗(yàn)證讀寫器是否存在容限缺陷。
實(shí)際上在實(shí)際應(yīng)用中讀寫器天線與標(biāo)簽芯片等相關(guān)關(guān)鍵器件間的阻抗匹配也會(huì)影響讀寫器的靈敏度特性,CISC阻抗仿真器作為讀寫器測(cè)試設(shè)備的選件可以模擬匹配不完美的天線,這些天線可能由于生產(chǎn)公差或周圍射頻環(huán)境的變化而產(chǎn)生。RFID Xplorer通過軟件控制改變自身輸入阻抗來完成,并可以在阻抗不完美的情況下評(píng)估讀寫器特性。與此同時(shí)標(biāo)簽信號(hào)相位的變化也對(duì)讀寫器靈敏度產(chǎn)生很大影響,選擇RFID Xplorer的移相器與讀寫器測(cè)試儀配合可以模擬0-360度相位變化得到不同相位的讀寫器接收靈敏度,這可以更容易完善讀寫器的硬件設(shè)計(jì)。
幾種需要的測(cè)試可以合并進(jìn)行,例如BLF、相位、阻抗都是可以做疊加測(cè)試,這樣可以在多個(gè)維度來評(píng)估讀寫器靈敏度是否存在缺陷。
當(dāng)完成了所有這些沒有配置天線的讀寫器測(cè)試后,可以安裝上自己心儀的不同天線,進(jìn)行讀寫器靈敏度的非接測(cè)試,看是否能與讀寫器當(dāng)初設(shè)計(jì)和之前有線的模擬天線特性測(cè)試的靈敏度相符。
因此,要完整的去評(píng)估一個(gè)RAIN RFID讀寫器的接收靈敏度,首先一定是需要遵循標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可的測(cè)試方法和規(guī)范,圍繞Tx Power、BLF、相位、阻抗匹配等方向來多維度驗(yàn)證未接天線的讀寫器靈敏度的容限,確認(rèn)有線測(cè)試結(jié)果并優(yōu)化設(shè)計(jì)后可以設(shè)計(jì)或配上匹配的天線,測(cè)量靈敏度的無線接收靈敏度特性。
其實(shí)這些都是讀寫器的物理特性,很多時(shí)候軟件或固件工程師會(huì)更關(guān)注時(shí)序和指令統(tǒng)計(jì)相關(guān)的數(shù)據(jù),RFID Xplorer的監(jiān)聽器擁有讀寫器指令觸發(fā)、指令分析、先進(jìn)指令統(tǒng)計(jì)功能,是特別適合軟件工程師們分析軟件問題的工具。